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AUTO-JZ010型晶振測試儀

簡要描述：名稱:AUTO-JZ010型晶振測試儀 規格:可定制 入箱:可定制 檢測標準: 材質/級別:可定制

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  • 更新時間：0001-01-01
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產品詳情
    概述:
    AUTO-JZ010型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標的通用測試儀器。
    儀器采用超高精度的有源溫補晶振作為時間基準；高速ECL電路進行信號的整形、放大、計數 ;單片機進行系統管理及數據處理。儀器自身帶有最常用的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振（超過35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。另外系統留有“有源晶振”的測試接口，配備相應的附件可用來測試有源晶振；而且系統還設置了外部信號的測量通道，可以擴展作為頻率計使用。

    功能及用途
    本儀器可直接測量35MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；
    另外本儀器還留有“有源晶振測試接口”，配備不同規格的“貼片晶振測試座”后可以測量5v、3.3v、1.8v供電的不同封裝的有源晶振；而且還留有外部信號輸入接口，可以測量其它設備的信號。
    該設備可以測量如下類型的參數：
    1.頻率
    2.周期
    3.頻率偏差率
    4.頻率漂移率
    5.漂移監測時間
    主要技術參數：
    頻率測量范圍 20Hz-100Hz
    周期測量范圍 1ns-10s
    采樣時間（T） 0.01s，0.1s，1s，10s
    頻率分辨率（R.P.） 1. T=0.01s 時R.P.=100HZ
    T=0.1s 時R.P.=10HZ
    T=1s 時R.P.=1HZ
    T=10s 時R.P.=0.1HZ
    基準頻率 10MHz
    精準精度 2ppm
    測量精度 2.5倍基準精度+1 R.P.
    外部輸入信號幅度 50mv-10v
    環境溫度 20±15℃
    電源 100-240v、50/60Hz
    功耗 <10W

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